Gebraucht JEOL JWS 7500E #9299482 zu verkaufen

JEOL JWS 7500E ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das erstklassige Bildgebungsleistung und vielseitige Anwendungen bietet. Dieses scannende Elektronmikroskop verwendet einen everhart-thornley sekundären Elektronentdecker, der hohe Empfindlichkeit und niedrige Geräuschbildaufbereitung bietet. Darüber hinaus verfügt JWS 7500E über einen Standard-Rückstreuelektronendetektor, mit dem Benutzer sowohl sekundäre als auch Rückstreuelektronenbilder erfassen können, sowie eine relative Fülle von Elementen in einer Probe erfassen können. JEOL JWS 7500E verfügt auch über eine EverNew SEN Digitalkamera, die hochauflösende Bilder bei Pixelauflösungen bis zu 2.048 x 2.048 bietet. Diese Digitalkamera ist mit einem 30-Bit-internen Videoprozessor und einem flüssigen stickstoffgekühlten Festkörper-CCD-Sensor ausgestattet, um das höchste Signal/Rauschverhältnis bereitzustellen. Darüber hinaus verfügt JWS 7500E über eine fortgeschrittene normale Strahl Z-funktionierende und hochauflösende sekundäre Elektronen (SEM) Bildgebung. JEOL JWS 7500E Scanning Electron Microscope ist auch mit einer Vakuumausrüstung ausgestattet, die speziell für hochauflösende SEM- und Backscatter Electron Imaging (BSEI) konzipiert ist. Dieses Vakuumsystem ist mit einer Turbo-Molekulardrag-Ionen-Pumpe sowie einer Drehschiene, einem Turbo-Molekülwiderstand und Ionenpumpen ausgestattet, die einen ultrahochen Vakuumbetrieb ermöglichen. JWS 7500E kommt auch mit einer Auto-Sampling-Einheit, die die schnelle und bequeme Übertragung von Proben zwischen bildgebenden Stellen ermöglicht. Darüber hinaus bietet JEOL JWS 7500E Scanning Electron Microscope eine Vielzahl von Techniken, einschließlich Electron Backscatter Diffraction (EBSD) -Fähigkeit und Energy Dispersive X-Ray Microanalysis (EDXMA). Dieses SEM bietet auch eine Auswahl von sieben Beschleunigungsspannungen im Bereich von 5 bis 30 KV, die eine breite Palette von bildgebenden Anwendungen ermöglichen. Darüber hinaus verfügt dieses SEM auch über eine Vielzahl fortschrittlicher analytischer Funktionen, die die Bildgebung und Analyse schneller und einfacher machen, wie die Modulogic Series-Technologie, mit der Benutzer die Parameter des Mikroskops schnell anpassen können, um die Leistung zu verbessern. Insgesamt ist JWS 7500E Scanning Electron Microscope ein außergewöhnlich leistungsstarkes Instrument, das eine hochauflösende Bildgebung sowie vielseitige und leistungsstarke analytische Funktionen bietet. Diese Rasterelektronenmikroskop Vakuum-Maschine, bildgebende Fähigkeiten und analytische Funktionen machen es zu einer ausgezeichneten Wahl für diejenigen in den Branchen der Elektronik, Materialwissenschaften und Biowissenschaften.