Gebraucht JEOL JWS 7500E #293761986 zu verkaufen

JEOL JWS 7500E
ID: 293761986
Wafergröße: 8"
Wafer inspection system, 8".
JEOL JWS 7500E ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das speziell für Forschung und Industrieanwendungen entwickelt wurde. Es bietet eine fortschrittliche Bildgebungsleistung, einschließlich hochauflösender Bildgebung bei hohen Vergrößerungen (bis zu 18.000 x) und einer niedrigen kV-Bildgebungsfähigkeit. JWS 7500E ist mit einer Vielzahl von Elektronenoptiken ausgestattet, darunter ein Schottky Emitter, Off-Axis Triplet, Cold Cathode Field Emitter und Broad-Beam Condenser, die alle eine präzise Manipulation des Elektronenstrahls ermöglichen. Dies ermöglicht es Anwendern, hochauflösende Bildgebung und überlegenen Kontrast für eine Vielzahl von Probentypen wie organisches Material, Metalle und Keramik zu erzielen. Neben leistungsstarken bildgebenden und analytischen Funktionen ist JEOL JWS 7500E auch mit einer automatisierten Probenstufe ausgestattet. Seine „Smart Stage“ -Technologie ermöglicht die automatische Anpassung und Korrektur der Probenstufe, um eine genaue und konsistente Bildgebung zu gewährleisten. JEOL bietet auch eine Vielzahl von automatisierten Funktionen, einschließlich In-situ-Analyse, optische Messtechnik und Oberflächenbildgebung. JWS 7500E bietet auch eine Reihe von erweiterten analytischen Fähigkeiten, einschließlich digitale Bildgebung, Energie-dispersive Röntgenspektroskopie (EDS), Wellenlängen-dispersive Röntgenspektroskopie (WDS), Röntgenfluoreszenz (XRF) und Cathodolumineszenz (CL L). Die EDS- und CL-Systeme bieten elementare und zusammensetzende Analysen, während WDS und XRF verwendet werden können, um zusätzliche Oberflächenanalysen zu erhalten. All diese Fähigkeiten machen JEOL zu einem idealen Instrument für die Materialanalyse. JEOL JWS 7500E kommt auch mit einer Reihe von Steuerung und benutzerorientierte Funktionen. Es verfügt über eine grafische Benutzeroberfläche in Echtzeit, die dem Bediener die Möglichkeit bietet, Parameter, Vergrößerungen und den Winkel der Probenstufe einzustellen. Diese intuitive Benutzeroberfläche macht JEOL einfach zu bedienen und ermöglicht eine fortschrittliche Steuerung. JWS 7500E ist ein leistungsstarkes Mikroskop, das auf die Bedürfnisse von Forschungs- und Industrieorganisationen zugeschnitten ist. Seine fortschrittlichen bildgebenden und analytischen Fähigkeiten ermöglichen eine detaillierte Beobachtung und Charakterisierung von Proben, so dass es eine ideale Wahl für Materialanalyseanwendungen ist.
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