Gebraucht PHILIPS / FEI Sirion 400 #293830599 zu verkaufen
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ID: 293830599
Wafergröße: 4"
Scanning Electron Microscope (SEM), 4"
E-Beam lithography
Resolution: 2 nm
Tilt: 60°
NPGS System.
PHILIPS/FEI Sirion 400 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, die derzeit auf dem Markt verfügbaren höchstauflösenden Bilder zu erzeugen. FEI Sirion 400 ist mit einer Elektronenquelle für Schottky-Feldemissionskanonen (FEG) ausgestattet, die außergewöhnliche Leistung für einen hervorragenden Bildkontrast bietet. Dieses System ist in der Lage, Details so klein wie 2 Nanometer zu produzieren. So können Wissenschaftler und Forscher kleinste Details beobachten und untersuchen. PHILIPS Sirion 400 ist auch unglaublich präzise, so dass Benutzer Partikel und Oberflächen genau messen können, die mit bloßem Auge nicht zu sehen sind. Mit seinem variablen Arbeitsabstand sind Probengrößen von 0,1 Nanometer bis 20 Zentimeter zu sehen. Der elektronische Detektor von Sirion 400 ist hochempfindlich und somit ideal für heikle Forschungsprojekte wie die biologische Probenanalyse. Mit dem Dual-Strahl-Detektor (DMD), der in das System integriert werden kann, kann ein Benutzer sowohl niedrige als auch hochauflösende Bilder der Probe sammeln. Die große Kammer von PHILIPS/FEI Sirion 400 ist für größere Proben wie Gesteine, Böden, Sedimente und Fasern ausgelegt. Seine schnellen Scangeschwindigkeiten in Kombination mit dem Autofokus-Objektiv ermöglichen eine Hochgeschwindigkeitsbildgebung und mit seiner Onboard-Software können Anwender schnell und genau den genauen Standort des gescannten Materials bestimmen. Für kürzere Rüst- und Betriebszeiten kann nun ein Mehrfachwechsler installiert werden. Benutzer können die Probe entweder in einer herkömmlichen Ansicht oder in einer spezialisierten 360-Grad-Ansicht für eine genauere Analyse anzeigen. Das fortschrittliche Laserausrichtungssystem stellt sicher, dass jeder Scan perfekt auf den vorherigen abgestimmt ist, was jeden Fehler beim Zusammenfügen von Bildern minimiert. FEI Sirion 400 ist ein leistungsstarkes und präzises Rasterelektronenmikroskop, das sich perfekt für Forscher und Wissenschaftler eignet, die kleinste Objekte sehen und analysieren möchten. Mit seiner hochauflösenden Kamera, Mehrfachdetektorfunktionen und seiner fortschrittlichen Scangeschwindigkeit ermöglicht dieses Instrument es Forschern, detaillierte Bilder und Messungen ihres Probenmaterials zu erfassen.
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