Gebraucht PHILIPS / FEI Sirion 400 zu verkaufen

1 Ergebnis gefunden
Filter
Alle löschen
Filter
1 Ergebnisse
Wafergröße
  • (1)
PHILIPS / FEI Sirion 400 #293830599

PHILIPS / FEI

Sirion 400

Scanning Electron Microscope (SEM), 4" E-Beam lithography Resolution: 2 nm Tilt: 60° NPGS System.
4
Finden Sie nicht, was Sie suchen?