Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM #9200200 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM ist ein hochmodernes System für Wafertests und Messtechnik. Es kombiniert ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einer Vielzahl von automatisierten Messungen und bildgebenden Funktionen. Auf diese Weise können Wafer- und Düseneigenschaften wie kritische Abmessungen, Gerätetopographie und ein breites Spektrum elektrischer Geräteeigenschaften schnell und präzise gemessen werden. AMAT VeraSEM ermöglicht es Anwendern auch, Dopingprofile schnell zu charakterisieren und ein Benchmarking der Geräteleistung zwischen verschiedenen Proben durchzuführen. Mit seinem robusten Design und seinen fortschrittlichen Fähigkeiten ist APPLIED MATERIALS VeraSEM ideal für den Einsatz in der Entwicklung und Charakterisierung von Halbleiterbauelementen. Es bietet eine detaillierte Charakterisierung mikroelektronischer Komponenten und ermöglicht die Messung elektrischer Eigenschaften mit nanoskaliger Auflösung und Genauigkeit. Dies macht es zu einem wertvollen Werkzeug in der Halbleiterindustrie für die Geräteausfallanalyse und -überwachung. Die erweiterten bildgebenden Funktionen von VeraSEM verfügen über hochauflösende SEM- und Elektronenstrahl-induzierte Stromabbildungen (EBIC), um einen Stempel-zu-Stempel-Vergleich zu ermöglichen. Dies hilft, Bauelement und einzelne Transistordefekte zur weiteren Analyse zu ermitteln. VerSEM bietet auch spektroskopische Bildgebungsfunktionen, die es Anwendern ermöglichen, chemische Analysen bis zur Nanometerskala durchzuführen. Darüber hinaus sind die automatisierten Messfähigkeiten in der Branche unübertroffen. AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM kann mit seiner 10-Nanometer-Auflösung die kleinsten Merkmale messen und ist damit eine der besten verfügbaren Wafer-Sondierungslösungen. Das System bietet auch eine erweiterte Suite von Software-Tools, einschließlich automatischer Mustererkennung und Fehlerklassifizierung, die die Arbeitsabläufe vieler Ingenieure und Forscher verbessern. Insgesamt ist AMAT VeraSEM ein sehr vielseitiges und anspruchsvolles Wafertest- und Messtechniksystem, das detaillierte und genaue Ergebnisse liefert. Seine leistungsstarken bildgebenden und automatisierten Messfähigkeiten machen es zu einem unschätzbaren Werkzeug für die Entwicklung und Charakterisierung von Halbleiterbauelementen. Es eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen wie Fehleranalyse, Benchmarking, Messung kritischer Abmessungen und elektrischer Eigenschaften und mehr.