Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSem zu verkaufen

Wafer-Prüfung und Messtechnik

Hersteller

AMAT / APPLIED MATERIALS

Modell

VeraSem

Soll man verkaufen?

Zum Verkauf einreichen

4 Ergebnisse gefunden

Filter

Alle löschen

4 Ergebnisse

Beliebtes Produkt

Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 12" 2002 vintage.

Finden Sie nicht, was Sie suchen?

Beliebtes Produkt

3D Scanning electron microscope (SEM), 8" Wafer shape: SNNF PP Miraial, 8" No SMIF interface Electr

Beliebtes Produkt

Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 8".

Beliebtes Produkt

System, 12".