Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM #9236866 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM ist eine komplette Wafer-Test- und Messtechnik-Lösung, die den Anforderungen fortschrittlicher Speicherherstellungsprozesse gerecht wird. AMAT VeraSEM verfügt über leistungsstarke Bildgebungs-, Analyse- und Kalibrierungsfunktionen und kann problemlos in bestehende Produktionslinien integriert werden. ANGEWANDTE MATERIALIEN VeraSEM nutzt fortschrittliche spektroskopische Bildgebungstechnologie für ultrahochempfindliche, schnelle Messungen und schnelle Ergebnisse. Die fortschrittliche Plattform ermöglicht eine genaue Echtzeit-Datenerfassung mit Wafern auf der Probenphase. VeraSEM liefert überlegene Detektion und Analyse von Partikeln, Nanopartikeln, Defekten und z-Höheneigenschaften durch die Untersuchung von 2D- und 3D-Querschnitten des Materials. Das Gerät verfügt über ein verbessertes Thermoelektronenmikroskop (ThermoSTEM), das Millionen von Datenpunkten über eine Vielzahl von Wafergeometrien erfasst und verarbeitet. Die Analyse bietet eine außergewöhnliche Empfindlichkeit gegenüber Materialien, Oberflächenleitfähigkeit, Kornschlüssel, Orientierungen und anderen kritischen Parametern. Die Kristallstrukturabbildung wird durch den anpassbaren 200-2500V beschleunigenden Spannungsbereich und 40-80 nA Strombereich von AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM ermöglicht. Die Wafer-Mapping-Funktionen von AMAT VeraSEM erleichtern die umfassende Prüfung kleinerer Geräte durch die Abbildung mehrerer Sensorpunkte oder Zielbereiche über den Wafer für simultane Messungen mit seiner Dual-Position-Probenphase. Vergrößerungsstufen bis zu 50kX und hochauflösende Bildgebungsfunktionen bieten eine Auflösung von bis zu 0,2 nm. Die Vorgänge können von einer zentralen Leitstelle aus fernüberwacht werden, mit einem integrierten Datenspeichersystem zur Archivierung von Bilddaten. Neben den Kernoperationen von APPLIED MATERIALS VeraSEM stehen eine komplette Reihe von Softwarelösungen zur Verfügung, um die Verwaltung, Optimierung und Datenanalyse für die Wafertests zu erleichtern. Mit der Unit Manager-Software können Benutzer auf mehrere Ressourcen in der gesamten Netzwerkumgebung mit sicherer Authentifizierung zugreifen. Alle automatisierten Messoperationen wie Fehlerintelligenz, Partikelgröße, Wafersymmetrie und geometrische Analyse werden mit Unterstützung der Advanced Metrology Suite durchgeführt. Die Maschine umfasst auch sichere Datensicherungs- und Archivierungslösungen, um die grundlegende Einhaltung der Branchenqualitätsstandards zu gewährleisten. Abschließend bietet VeraSEM von AMAT eine hervorragende Lösung für fortschrittliche Wafertests und Messtechnik. Eine Kombination aus leistungsfähigen Bildgebungs-, Analyse- und Kalibrierungsfunktionen, Unterstützung für Fernüberwachung, sichere Authentifizierung und Datenspeicherung sowie On-Board-Software zur Datenoptimierung erleichtern die rationelle Integration der Plattform in verschiedene Produktionslinien-Umgebungen.