Gebraucht BRUKER / SLOAN DEKTAK IIA #293615478 zu verkaufen

ID: 293615478
System.
BRUKER/SLOAN DEKTAK IIA Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung bietet genaue und effiziente Messungen der Oberflächentopographie auf Halbleiterscheiben, Substraten und anderen mikroelektronischen Komponenten. Das System nutzt fortschrittliche optische Interferometrietechnologie, um Gräben, Tiefen und Höhen mit hoher Bildgeschwindigkeit und Präzision zu messen. Der Dektak BRUKER IIA ist mit einer vergrößerten optischen Kammer ausgestattet, um Wafergrößen von 50 bis 200 mm zu erleichtern. Dieses Gerät unterstützt große 200-mm-Wafer mit 10 µm Positionsgenauigkeit und bietet eine vollständige Softwaresteuerung der Waferposition, des Autofokus und der vertieften Wafer-Neigungsverstellung. Das Dektak SLOAN DEKTAK IIA verfügt über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche, die den Scanvorgang steuert. Die Benutzeroberfläche bietet eine einfach zu bedienende Menümaschine zum Einrichten des Werkzeugs zur Messung. Die Dektak IIA umfasst auch Asset-Alignment-Verfahren und eine Vielzahl von Datenanalyse-Tools, die sicherstellen, dass Messungen schnell und genau sind. Mit einer Kalibrierungsfunktion für Standardauflöser können Benutzer problemlos die besten Messauflösungseinstellungen für ihre Anwendung auswählen. Der Dektak BRUKER/SLOAN DEKTAK IIA unterstützt das vollständige Wafer-Mapping mit seinen erweiterten Multikoordinaten-Querschnitten und erweiterten Scan-Funktionen. Mit diesem KE können Benutzer auf der gesamten Oberfläche eines Wafers bis zu 3-dimensionale Tiefe, Höhe und Profil messen. Mit der automatischen Höhenoptimierungssoftware kann der Dektak BRUKER IIA den Höhenniveau des Messkopfes automatisch anpassen, um konsistente Messergebnisse zu erhalten. Insgesamt ist das SLOAN DEKTAK IIA Wafer-Prüf- und Metrologiemodell eine leistungsfähige, genaue und zuverlässige Ausrüstung zur Analyse der Oberflächentopographie von Halbleiterscheiben und anderen mikroelektronischen Komponenten. Mit seiner intuitiven grafischen Benutzeroberfläche, dem Höhenniveau des Messkopfes und einer Vielzahl von Datenanalysetools eignet sich der Dektak IIA gut für viele verschiedene Messanwendungen.
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