Gebraucht GOM ATOS III Triple Scan #9278050 zu verkaufen

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ID: 9278050
3D Scanner Type: Blue light Camera pixels: 2 x 8,000,000 Lens: Type / Point spacing MV100 / 0.032mm MV320 / 0.104mm MV700 / 0.213mm Sensor and parts: Standalone-SO Motorized kit GOM Tilt and swivel GOM Lift 3-Axis motion controllers Breadboard Table frame Accessories includes: Cable: 10m Touch probe Thermometer User manual Power supply: 90 to 230 VAC.
GOM ATOS III Triple Scan ist eine führende Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für fortschrittliche Halbleiterprozesse in Fabriken auf der ganzen Welt verwendet wird. Es verwendet drei verschiedene optische Triangulationssensoren auf einem einzigen Positionierungssystem, das dreidimensionale Oberflächeninformationen aus einer Reihe verschiedener Objekte in einer einzigen, schnellen Bewegung scannt. Das Gerät bietet hochpräzise 3D-Bilder und Messungen für High-End-Wafermessungen, einschließlich dünner Wafer, Funktionsgrößen unter 5um und Seitenverhältnisse größer als 1: 20. GOM ATOS Triple Scan ist die weltweit erste integrierte Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine, die diese Genauigkeit bietet. Darüber hinaus verfügt das Tool über eine modulare Hardware- und Softwareplattform für die genaue und zuverlässige 3D-Datenerfassung. Es bietet ein großes Messfeld mit automatischer Ausrichtung, Echtzeit-Positionsmessung und hoher Flexibilität in kundenspezifischen Konfigurationen. Zusätzlich misst ein integriertes Vision Asset x-y Offsets des Sichtfeldes in einem einzigen Scan. GOM ATOS Triple Scan ist auch mit erweiterten Softwarefunktionen ausgestattet. GOM proprietäre ATK-Software ermöglicht schnelle Datenverarbeitung, Multi-Sensor-Synchronisation und Multi-Sensor-Registrierung. Das Modell wird auch mit einfach zu bedienender Software mit intuitiven Benutzeroberflächen sowie einer Vielzahl unterstützter Datenformate zur weiteren Analyse geliefert. Insgesamt ist ATOS III Triple Scan eine leistungsstarke und zuverlässige 3D-Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es bietet zuverlässige und genaue Oberflächenmessung von dünnen Wafern, Merkmalsgrößen unter 5um und Seitenverhältnisse größer als 1: 20. Mit seinen robusten Hardware- und Softwarefunktionen sowie seinen anpassbaren Funktionen ist der GOM ATOS Triple Scan eine ideale Wahl für erweiterte Waferinspektionen und Tests.
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