Gebraucht LEITZ SP #109670 zu verkaufen

LEITZ SP Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein fortschrittliches Messtechnik-Tool, das in der Waferindustrie zur Untersuchung von Waferoberflächen und elektrischen Parametern eingesetzt wird. Dieses System bietet die genauesten und genauesten verfügbaren Wafertest- und messtechnischen Ergebnisse und ist in der Lage, Wafer verschiedener Größen und Dicken zu testen. SP ist eine automatisierte Test- und Messtechnik-Einheit mit integrierter interaktiver Touchscreen-Schnittstelle. Eine Bewegungssteuermaschine treibt die Laser- und Linearstufen an, die eine exakte Messung von Waferoberflächen und Geräteparametern ermöglichen. Das Werkzeug kann Flächenparameter wie Oberflächentopographie und elektrische Eigenschaften schnell und genau messen. LEITZ SP verfügt über ein Hochgeschwindigkeits-Bildmikroskop, das mit einer High-End-sCMOS-Kamera und einer Lichtquelle zur Aufnahme detaillierter Bilder von Waferoberflächen ausgestattet ist. Sie kann bis zu zwei Wafer gleichzeitig messen und Messungen mit Geschwindigkeiten bis zu 900 mm/s durchführen. Es ist auch mit einem Mehrpunkt-Strahlprofiler ausgestattet, der das Profil eines Wafers bis innerhalb von 0,01 µm genau messen kann. Die Anlage verfügt auch über eine optische Detektoranordnung, die elektrische Eigenschaften wie Widerstand, Kapazität und Leitfähigkeit messen kann. SP enthält auch ein Fehlererkennungsmodell, das eine automatisierte Erkennung von Fehlern in Wafern ermöglicht. Die Geräte werden von einer Software-Suite unterstützt, die schnelle und effiziente Datenverarbeitungsfunktionen bietet. Die Software bietet Benutzern eine leistungsstarke grafische Benutzeroberfläche zur Einstellung von Konfigurationen, Analysen und Berichten. Zusammenfassend ist LEITZ SP Wafer Testing and Metrology System ein innovatives Werkzeug, das den Bedürfnissen der Waferindustrie gerecht wird. Es bietet eine hochpräzise, genaue und automatisierte Messung von Waferoberflächenparametern und elektrischen Eigenschaften. Das Gerät wird von einer zuverlässigen und effizienten Bewegungssteuerungsmaschine angetrieben, die mit einem Hochgeschwindigkeitsmikroskop und einem Fehlererkennungswerkzeug ausgestattet ist und von einer Software-Suite für eine schnelle und effiziente Datenverarbeitung unterstützt wird. SP kann Waferfertigung und Forschungslabors helfen, die Präzision und Genauigkeit der Wafertests zu verbessern.