Gebraucht TEL / TOKYO ELECTRON P-8 #9407565 zu verkaufen

TEL/TOKYO ELECTRON P-8 ist ein hochmoderner Prober, der von TEL/Toshiba zur Prüfung von Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. TEL P8 ist mit einem 8 "Wafer Mapper, einer hochauflösenden Z-Achsen-Bewegung und einer 8-Axis High Speed Wafer Stage ausgestattet. Sein Wafer Mapper hat eine maximale Auflösung von 0,5 μ m Tonhöhe und die hochauflösende Z-Achsen-Bewegung (X, Y und Z Bewegungsbereich) ist bis zu 4 μ m fähig. Seine 8-Axis High Speed Wafer Staage verwendet eine Positionsgenauigkeit von 0.05μm/Axis und eine 30 μ m/sec Probengeschwindigkeit sowie eine 0,5 μ m/sec Wafer Handhabungsgeschwindigkeit. TOKYO ELECTRON P 8 verfügt außerdem über eine automatische Lebensdauer- und Abstandskompensationseinrichtung, die die genaue und wiederholbare Positionierung des Tastkopfes in Bezug auf das zu prüfende Gerät ermöglicht. Dieses System umfasst eine Berührungseinheit zur berührungslosen Positionierung und eine Tester-Ausrichtungsmaschine zur Feinabstimmung der Tastkopfposition. Darüber hinaus verfügt P-8 über ein äußerst zuverlässiges, stressfreies Werkzeug für den Geräteschutz, das Schutz vor ESD, Kontamination und Vibrationen bietet. TOKYO ELECTRON P8 hat auch eine leistungsstarke, antistatische Ressource, die eine effiziente Möglichkeit zur Steuerung von Ladungszerfall bietet, was zu überlegener Messwiederholbarkeit, Gerätestabilität und Testwartung führt. Das Modell enthält auch einen berührungslosen kapazitiven Wirbelstromsensor zur Ladungsübertragung und Pulsstromeinspritzung zur Unterdrückung des Ladungsaufbaus. TEL/TOKYO ELECTRON P8 ist eine perfekte All-in-One-Lösung für anspruchsvolle Halbleiterproduktprüfungen. Seine Kombination aus Aussehen, Erkennung, Positioniergenauigkeit, Schutzfunktionen und antistatischen Steuerungssystemen machen es zum idealen Werkzeug für die Herstellung und Prüfung von Halbleiterscheiben und verpackten Bauelementen. TEL P 8 ermöglicht effiziente Tests mit minimierten Defekten, schnelleren Ergebnissen und überlegener Gerätelebensdauer.