Gebraucht HITACHI S-4700 #9276154 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9276154
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Includes:
Magnification: 500,000 times and resolve features to 2 nanometers
Accelerating voltage range: From 0.5 keV to 30 keV
2.5 nm resolution at 1 kV
1.5 nm resolution at 15 kV
Magnification range: From 30x to 500,000x
PC-controlled five axis motorized stage
Specimen stage rotation 360° in continuous mode
Specimen tilt at 12mm working distance (WD) up to 45"
Sample size up to 100 mm diameter x 17 mm high
(2) Secondary Electron (SE) detectors:
Above and below objective lens
Digital image acquisition: 640 x 480, 1280 x 960, or 1560 x 1920 pixels
Fully digital imaging
Image processing
Archiving system.
HITACHI S-4700 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein fortschrittliches elektronenmikroskopisches Instrument, das für die hochauflösende Abbildung einer Vielzahl von Materialien entwickelt wurde. Das Design dieses SEM bietet viele Vorteile, darunter Flexibilität und verbesserte bildgebende Auflösung sowie eine ergonomische Betriebsumgebung für die Probenmanipulation. Durch den Mechanismus „variabler Druck“ erzielt HITACHI S 4700 eine bemerkenswerte Leistung unabhängig von den Mustereigenschaften. S-4700 ist ein Desktop-SEM mit einem Hochspannungsnetzteil, das bis zu 30 kV betreiben kann, so dass Benutzer die Spannungs- und Abbildungsbedingungen nach Bedarf ändern können. Diese Funktion ermöglicht zusammen mit ihren hochempfindlichen Signalpegeln die Beobachtung von Probendetails bei optimaler Auflösung. Zusätzlich sorgt ein automatisches Fokuseinstellsystem dafür, dass das Bild immer im Fokus steht. S 4700 ist in die E-LINK Software integriert, die eine einfache Steuerung des SEM und seiner Komponenten für eine einfache Instrumentenoptimierung, Datenerfassung und quantitative Analyse ermöglicht. Eine Vielzahl von Objektiven bieten eine Reihe von Vergrößerungen, von 20x bis mehrere tausend Mal. Das bildgebende System bietet auch Feldlinsen variabler Länge für optimale Bildgebung und Flexibilität der Auflösung. Der um 360 ° rotierende Probenhalter bietet beispiellose Probenmanipulation und -untersuchung aus jedem Winkel, so dass er sich ideal für die Analyse unregelmäßig geformter Objekte eignet. Um eine qualitativ hochwertige Bildgebung sicherzustellen, stehen eine Vielzahl von Bühnen- und Probenhaltern zur Verfügung, um Proben sicher an Ort und Stelle zu halten. HITACHI S-4700 verfügt über ein Vakuumsystem bestehend aus einer primären Turbomolekularpumpe und einer sekundären Membranpumpe, die eine schnelle Evakuierung von Restgasen ermöglicht, die für eine verbesserte Bildqualität wesentlich sind. Darüber hinaus trägt die Sekundärpumpe auch dazu bei, die Probenaufladung zu reduzieren. HITACHI S 4700 ist ein ideales SEM für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich industrieller, akademischer und Forschungseinstellungen. Seine innovative Bildgebungstechnologie und sein benutzerfreundliches Design machen es zu einem leistungsstarken Werkzeug für jede Mikroskopieanwendung.
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