Gebraucht HITACHI SU-70 #9227448 zu verkaufen

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ID: 9227448
Wafergröße: 8"-12"
Weinlese: 2008
Scanning Electron Microscope (SEM), 8"-12" Process: Analysis Holder chamber Trackball Control pad / BSE Detector / EVAC STG Controller TMP Pump Ion power supply / Main PCB board DC Power Lens power supply / Main PC LCD Monitor / Power-supply HT Box (HV Additional unit type) Anti-vibration table Includes: Main body PC Display Dry pump Power supply HT Power supply Cover Pump cover OS: Windows HITACHI Load port HITACHI Loader arm EDWARD ESOP12 HITACHI Chamber HP Compaq Does not include hard disk drive Voltage: 208 V 2008 vintage.
HITACHI SU-70 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das außergewöhnliche Leistung und Bildqualität bietet. Das optische System besteht aus zwei identischen elektrostatischen Objektivlinsen, die die gleichzeitige Beobachtung von Sekundär- und Rückstreuelektronen ermöglichen. Diese Objektive ermöglichen eine hochauflösende Bildgebung unter Beibehaltung einer kompakten Größe. Das SEM hat eine Kammer, die manipuliert werden kann, um eine Vielzahl von Proben aufzunehmen. Dadurch kann der Benutzer den Fokus und die Vergrößerung genau einstellen. Das Mikroskop weist außerdem eine Feldemissionskanone (FEG) auf, die es dem Benutzer ermöglicht, die Energie der Elektronen einzustellen, um Oberflächenmerkmale zu beobachten und die Zusammensetzung der Proben zu analysieren. Die Pistole ist in der Lage, bis zu 3,000V beschleunigende Spannung zu liefern, die die Untersuchung von Proben von nichtleitenden Materialien mit einer Vielzahl von Elektronenenergien ermöglicht. Die FEG ist auch in der Lage, eine niedrige kV-SEM-Bildgebung von nichtleitenden Materialien mit einer Kontrastauflösung von bis zu 1 nm oder 0,1 nm bereitzustellen. Das SEM verfügt über eine einzigartige Benutzeroberfläche (U.I.), die eine einfache Bedienung ermöglicht. Der Benutzer kann entweder die englische oder japanische Sprache mit einer grafischen Benutzeroberfläche auswählen, um die Einstellungen und Parameter des Mikroskops anzupassen. Für den verbesserten Betrieb ist das Mikroskop mit dedizierter Software gebündelt, die bei der Einstellung der Parameter und der Bilderfassung helfen kann. Schließlich ist das Mikroskop mit einer Reihe von Zubehörteilen ausgestattet, darunter Probenhalter, Spezialstufen und polarisierte Filter, die dem Anwender helfen, den bildgebenden Prozess zu optimieren. Die Kombination der verschiedenen Funktionen bietet dem Anwender ein präzises und leistungsfähiges SEM.
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