Gebraucht HITACHI SU-70 #9227448 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9227448
Wafergröße: 8"-12"
Weinlese: 2008
Scanning Electron Microscope (SEM), 8"-12"
Process: Analysis
Holder chamber
Trackball
Control pad / BSE Detector / EVAC
STG Controller
TMP Pump
Ion power supply / Main PCB board
DC Power
Lens power supply / Main PC
LCD Monitor / Power-supply
HT Box (HV Additional unit type)
Anti-vibration table
Includes:
Main body
PC Display
Dry pump
Power supply
HT Power supply
Cover
Pump cover
OS: Windows
HITACHI Load port
HITACHI Loader arm
EDWARD ESOP12
HITACHI Chamber
HP Compaq
Does not include hard disk drive
Voltage: 208 V
2008 vintage.
HITACHI SU-70 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das außergewöhnliche Leistung und Bildqualität bietet. Das optische System besteht aus zwei identischen elektrostatischen Objektivlinsen, die die gleichzeitige Beobachtung von Sekundär- und Rückstreuelektronen ermöglichen. Diese Objektive ermöglichen eine hochauflösende Bildgebung unter Beibehaltung einer kompakten Größe. Das SEM hat eine Kammer, die manipuliert werden kann, um eine Vielzahl von Proben aufzunehmen. Dadurch kann der Benutzer den Fokus und die Vergrößerung genau einstellen. Das Mikroskop weist außerdem eine Feldemissionskanone (FEG) auf, die es dem Benutzer ermöglicht, die Energie der Elektronen einzustellen, um Oberflächenmerkmale zu beobachten und die Zusammensetzung der Proben zu analysieren. Die Pistole ist in der Lage, bis zu 3,000V beschleunigende Spannung zu liefern, die die Untersuchung von Proben von nichtleitenden Materialien mit einer Vielzahl von Elektronenenergien ermöglicht. Die FEG ist auch in der Lage, eine niedrige kV-SEM-Bildgebung von nichtleitenden Materialien mit einer Kontrastauflösung von bis zu 1 nm oder 0,1 nm bereitzustellen. Das SEM verfügt über eine einzigartige Benutzeroberfläche (U.I.), die eine einfache Bedienung ermöglicht. Der Benutzer kann entweder die englische oder japanische Sprache mit einer grafischen Benutzeroberfläche auswählen, um die Einstellungen und Parameter des Mikroskops anzupassen. Für den verbesserten Betrieb ist das Mikroskop mit dedizierter Software gebündelt, die bei der Einstellung der Parameter und der Bilderfassung helfen kann. Schließlich ist das Mikroskop mit einer Reihe von Zubehörteilen ausgestattet, darunter Probenhalter, Spezialstufen und polarisierte Filter, die dem Anwender helfen, den bildgebenden Prozess zu optimieren. Die Kombination der verschiedenen Funktionen bietet dem Anwender ein präzises und leistungsfähiges SEM.
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