Gebraucht ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293586543 zu verkaufen

ADE/KLA/TENCOR AFS 3220 ist eine führende Wafer-Prüf- und Messtechnik, die zur Beobachtung und Analyse von Partikelmerkmalen auf der Oberfläche von Wafern und anderen Halbleitermaterialien verwendet wird. Es ist wichtig, die feinen Details der Oberflächenmerkmale eines Halbleiterprodukts zu verstehen, da sie seine Leistung und letztlich die Qualität des Geräts definieren. ADE AFS 3220 bietet eine präzise und umfassende 3D-Oberflächenmesstechnik, die Merkmale großflächig messen kann, darunter Partikel, Markierungen, strukturelle und geometrische Merkmale und ungewöhnliche Formen. Mit Hilfe von Scan- und Topographietechnologien kann die Oberflächenebenheit, Breite, Höhe und Krümmungsradius dieser Merkmale gemessen werden. KLA AFS 3220 bietet zwei Hauptscanmodi, die es zu einem idealen Werkzeug für Wafertests und Messtechnik machen. Der erste Scanmodus ist die Zeilenabtastung, die großflächig für schnelle Messungen verwendet wird. Dieser Modus erfasst die Rohform- und Oberflächentopographiedaten sehr schnell. Der zweite Abtastmodus ist eine Bereichsabtastung, die höherauflösende Daten im Detail erfasst. Dieser Modus kann zur detaillierten Analyse von Partikeloberflächenmerkmalen verwendet werden. Das System ist mit einem hochauflösenden Bildgebungssensor, einer Laserpräzisionsabtaststufe und automatisierten Algorithmen für genaue und zuverlässige Bildgebung ausgestattet. Es enthält auch eine hochgenaue Z-Bereich-Positioniereinheit, die ein breiteres Spektrum von Sichtfeld und eine große Auswahl an Oberflächenmerkmalen ermöglicht. Ein wesentliches Merkmal von AFS 3220 ist sein automatisierter Bildgebungsprozess, der manuelle Bildgebungsschritte eliminiert und sicherstellt, dass die Ergebnisse wiederholbar und reproduzierbar sind. Es bietet auch eine intuitive Benutzeroberfläche, die dazu beiträgt, die Trainingszeit zu minimieren, sodass Benutzer ohne erhebliche Anweisungen schnell zum Laufen kommen können. Insgesamt ist TENCOR AFS 3220 eine zuverlässige und benutzerfreundliche Maschine, die es einem Benutzer ermöglicht, eine breite Palette von Oberflächenmerkmalen eines Halbleiterprodukts mit Genauigkeit zu erfassen, zu analysieren und zu berichten. Es ist ein unverzichtbares Werkzeug für diejenigen, die eine effiziente und genaue Bewertung von Wafertests und Messtechnik benötigen.